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    • 名針探精準定位 讓奈米電性量測找出缺陷

      名針探精準定位 讓奈米電性量測找出缺陷

      科技新報 TechNews· 5 天前

      當奈米級先進製程的元件發生故障，要找出微小尺度下的缺陷，該透過何種電性量測精準定位？ 各國大廠近年致力挑戰 3 奈米、2 奈米微縮角力戰，製程技術是一場永 ...